LAM Beam Analyzer激光增材制造光斑分析仪

LAM Beam Analyzer激光增材制造光斑分析仪

专为LAM(激光增材制造)设计的新型仪器。 测量关键参数,如光斑大小,位置和功率。

当放置在桌面上时,可测量聚焦在该表面上的光斑的功率、位置和光斑大小。 适用于QA和内置的实时测量。

LAM光斑分析仪结构紧凑,功能齐全,通过外部压缩空气进行冷却,无需水冷。
可测量高达4kW的CW激光器的高精度光斑分析。
宽动态范围,可测光斑大小从几微米至9毫米。
适用于安装在LAM机器中或用于离线测量。