LAM Beam Analyzer激光增材制造光斑分析仪
专为LAM（激光增材制造）设计的新型仪器。 测量关键参数，如光斑大小，位置和功率。
当放置在桌面上时，可测量聚焦在该表面上的光斑的功率、位置和光斑大小。 适用于QA和内置的实时测量。
LAM光斑分析仪结构紧凑，功能齐全，通过外部压缩空气进行冷却，无需水冷。
可测量高达4kW的CW激光器的高精度光斑分析。
宽动态范围，可测光斑大小从几微米至9毫米。
适用于安装在LAM机器中或用于离线测量。
LAM Beam Analyzer激光增材制造光斑分析仪
专为LAM（激光增材制造）设计的新型仪器。 测量关键参数，如光斑大小，位置和功率。
当放置在桌面上时，可测量聚焦在该表面上的光斑的功率、位置和光斑大小。 适用于QA和内置的实时测量。
LAM光斑分析仪结构紧凑，功能齐全，通过外部压缩空气进行冷却，无需水冷。
可测量高达4kW的CW激光器的高精度光斑分析。
宽动态范围，可测光斑大小从几微米至9毫米。
适用于安装在LAM机器中或用于离线测量。