XUV/VUV光谱仪
H+P公司的XUV/VUV光谱仪采用平面掠入射具有像差校正的特点，三块光栅波长范围分别为1-20nm,5-80nm和40-200nm,总波长覆盖范围为1nm-200nm.光谱仪采用无狭缝入射能够提高光谱仪灵敏度。模块化设计能够满足不同实验的结构配置需求。它集成了狭缝固定架、滤波插入装置以及光栅电动定位装置。
参数规格：
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波长（nm） |
5～20 |
10～60 |
25～80 |
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工作模式 |
狭缝 |
无狭缝 |
无狭缝 |
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光源距离(m) |
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0.4～0.6 |
0.5～1.5 |
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平场尺寸（mm） |
25.4 |
50 |
50 |
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色散（nm/mm） |
0.5～0.7 |
0.7～1.1 |
0.9～1.3 |
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分辨率（nm） |
≈0.06 |
≈0.09 |
0.11 |
※波长范围1-15nm需要另一块光栅
※也可以定制其他结构来匹配不同的光源距离
下面的图像可以证明XUV光谱仪的测量能量。它展现的是滤波后的单发飞秒激光脉冲的高次谐波谱。上面的图显示了x-ray CCD探测到的原始影像，而下面的图显示的是柱条叠加后的谐波图谱。这个过程都由XUV光谱仪自动完成。
产品特点：
●平场入射光栅光谱
●单光栅波长范围覆盖5-80nm
●也可以选择1-5nm光谱
●三种不同的几何结构
●不同的探测器选择：X-ray CCD相机或MCP锥形光纤
●工作气压<10-6mbar,也可以提供无油气泵的独立真空系统